| 選擇電磁兼容測(cè)試儀器——靜電放電發(fā)生器 [2019-09-03] |
| 隨著高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展，儀器的選擇更為重要，越來越多的電磁兼容測(cè)試儀器對(duì)一個(gè)生產(chǎn)車間起到了生死存亡的效果，目前我國(guó)電磁兼容測(cè)試儀器有很多種類型，如何選擇一款正確的電磁兼容測(cè)試儀器 ——靜電放電發(fā)生器是十分需要專業(yè)技巧的。 |
|
| 德國(guó)Langer在電磁兼容診斷方面的設(shè)備 [2019-08-30] |
| 德國(guó)Langer是一種專注于研發(fā)診斷測(cè)試，產(chǎn)品種類齊全，基本覆蓋電磁兼容診斷測(cè)試所需項(xiàng)目的品牌，德國(guó)Langer產(chǎn)品獨(dú)有的芯片（IC）電磁兼容診斷系統(tǒng)和設(shè)備、微型探頭、微型干擾注入裝置、小型芯片電磁干擾掃描儀，在市場(chǎng)上十分出眾，并且現(xiàn)在國(guó)家大力發(fā)展芯片產(chǎn)業(yè)，德國(guó)Langer在未來的市場(chǎng)十分可觀。
|
|
| 近場(chǎng)探頭如何與頻譜分析儀查找EMI輻射問題 [2019-08-28] |
| 上海凌茂電子科技有限公司主要從事電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器和測(cè)試集成等項(xiàng)目，公司自成立以來，長(zhǎng)期處于不斷上升發(fā)展階段，為電力電子、交通、科研院所及高校提供豐富的產(chǎn)品信息、專業(yè)的解決方案和完善的測(cè)試產(chǎn)品。 |
|
| 開關(guān)電源中兩種控制類型的區(qū)別 [2019-08-26] |
| 開關(guān)電源的控制芯片有兩種控制類型，分別是電壓控制模式與電流控制模式。電壓控制與電流控制能在不同程度上反應(yīng)出信號(hào)的取樣數(shù)據(jù)，電壓型控制是以電源的輸出電壓為反饋信號(hào)，這種反饋信號(hào)與定值產(chǎn)生的偏差經(jīng)比較放大后會(huì)產(chǎn)生控制脈沖。
|
|
| 近場(chǎng)探頭產(chǎn)品分類細(xì)節(jié) [2019-08-23] |
| LF 1近場(chǎng)探頭組包含4個(gè)屏蔽無源近場(chǎng)探頭，用于在研發(fā)階段測(cè)量電子模塊上長(zhǎng)波、中波和短波區(qū)的射頻磁場(chǎng)。使用LF 1探頭組的探頭，可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。 |
|
| 近場(chǎng)探頭應(yīng)用選擇 [2019-08-21] |
| 近場(chǎng)探頭是德國(guó)Langger的一款知名產(chǎn)品，它是一款專用于配合頻譜分析儀查找干擾源的設(shè)備。近場(chǎng)探頭的電磁場(chǎng)是由電場(chǎng)（E場(chǎng)）和磁場(chǎng)（H場(chǎng)）結(jié)合形成的，工程師可使用各種探頭來檢測(cè)每類場(chǎng)中的發(fā)射。
|
|
| 新型CBA1G-D系列射頻功放 [2019-08-19] |
| AMETEK集團(tuán)的電磁兼容事業(yè)部，專注于為電磁兼容測(cè)驗(yàn)職業(yè)提供全面的測(cè)驗(yàn)解決方案，尤其是針對(duì)汽車電子，軍民標(biāo)，醫(yī)療設(shè)備等范疇的傳導(dǎo)和輻射抗擾度測(cè)驗(yàn)，可提供豐富的產(chǎn)品和測(cè)驗(yàn)體系。 |
|
| 薄膜壓力分布測(cè)試系統(tǒng) [2019-08-15] |
| 上海凌茂根據(jù)客戶需求，現(xiàn)有研發(fā)多種壓力測(cè)試系統(tǒng)，其中薄膜壓力分布測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)量接觸面的接觸壓力分布狀況，其性能 超薄(0.1mm)，測(cè)點(diǎn)多(2244測(cè)點(diǎn))，可以把整個(gè)接觸面的接觸壓力以彩色圖的方式顯示出來。本系統(tǒng)廣泛用于汽車，電池，土木、機(jī)械、電子等不同行業(yè)。
|
|
| 電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目詳解 [2019-08-13] |
| 電磁兼容的測(cè)試項(xiàng)目現(xiàn)在也是多種多樣，涉及到各行各業(yè)中。靜電抗擾度檢測(cè)、電快速瞬變脈沖群抗擾度檢測(cè)、雷擊浪涌檢測(cè)、射頻場(chǎng)感應(yīng)傳導(dǎo)的抗擾度檢測(cè)這幾種是最常見的幾種電磁兼容測(cè)試，也是電子行業(yè)中至關(guān)重要的幾種測(cè)試類型。
|
|
| 芯片ESD測(cè)試方法的研究 [2019-08-07] |
| 芯片級(jí)ESD測(cè)試在集成電路制造工藝的道路上也在不斷進(jìn)步，近年來，芯片深受ESD靜電放電等干擾的影響。 |
|
上海市長(zhǎng)寧區(qū)仙霞路369號(hào)1號(hào)樓 603 室
021-52831768/52833853
021-54391093
linkall@inlinkall.com
您當(dāng)前的位置：
關(guān)于我們
滬公網(wǎng)安備 31010702002647號(hào)
客服中心
產(chǎn)品中心
品牌代理
QQ客服